|
Архив публикацийТезисыXVI-ая конференцияИсследование развития барьерного разряда в системе проводник – плоскостьФГОУ ВПО «Чувашский государственный университет имени И.Н.Ульянова», кафедра «Телекоммуникационные системы и технологии», Россия, 428015, г. Чебоксары, Московский пр., 15, E-mail: andreev_vsevolod@mail.ru 1 стр. (принято к публикации)Исследовано развитие барьерного разряда в системе, представленной на рис.1. Эквивалентная электрическая схема приведена на рис.2. Здесь - емкость коаксиального цилиндра с внутренним радиусом и с внешним радиусом (см. рис.1); - емкость плоского конденсатора толщиной ; - емкость воздушного зазора между электродом в форме коаксиального цилиндра и плоским электродом. На основе законов Кирхгофа для электрической схемы на рис.2 получим следующее дифференциальное уравнение, описывающее изменение заряда на обкладках конденсаторов и : . Зависимость напряжения от времени определяется так: . Емкость вычисляется так: . Величина представляет собой сопротивление межэлектродного воздушного промежутка. Значение в отсутствие разряда является очень большим. При возникновении барьерного разряда данное сопротивление существенно уменьшается. Математическая модель исследована с помощью пакета Matlab. Получены для различных комбинаций параметров модели зависимости изменения заряда и напряжения на межэлектродном промежутке от времени. Определены времена зажигания и существования барьерного микроразряда. |
